《Metrologia》雜志主要接收以下類型的文章：

工程技術(shù)-物理：應(yīng)用領(lǐng)域的研究?：文章內(nèi)容涵蓋物理：應(yīng)用領(lǐng)域的最新研究成果、技術(shù)革新和學(xué)術(shù)動(dòng)態(tài)。

高質(zhì)量學(xué)術(shù)論文?：雜志對(duì)文章質(zhì)量要求較高，通常接收具有創(chuàng)新性和學(xué)術(shù)價(jià)值的研究成果。

投稿要求

內(nèi)容要求：投稿的文章應(yīng)涵蓋工程技術(shù)的關(guān)鍵主題，提供最新的研究進(jìn)展和學(xué)術(shù)動(dòng)態(tài)。

格式要求：投稿者需要遵循《Metrologia》雜志的投稿要求和格式規(guī)范，包括文章結(jié)構(gòu)、引用格式等。

其他信息

《Metrologia》雜志出版周期：Bimonthly，出版地區(qū)：FRANCE，語言：English。

該雜志屬于中科院分區(qū)中大類學(xué)科工程技術(shù)領(lǐng)域的3區(qū)，小類學(xué)科INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION儀器儀表領(lǐng)域的2區(qū)。小類學(xué)科PHYSICS, APPLIED物理：應(yīng)用領(lǐng)域的3區(qū)。

投稿咨詢

在JCR分區(qū)中為Q2（ 按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū)學(xué)科為INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION，收錄子集：SCIE，位于Q2區(qū)，排名38 / 76，百分位50.7%；PHYSICS, APPLIED，收錄子集：SCIE，位于Q3區(qū)，排名109 / 179，百分位39.4%； 按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū)在學(xué)科為INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION，收錄子集：SCIE，位于Q3區(qū)，排名46 / 76，百分位40.13%PHYSICS, APPLIED，收錄子集：SCIE，位于Q3區(qū)，排名106 / 179，百分位41.06% ）。

目前是未開放獲取期刊（OA） ，審稿周期預(yù)計(jì)為：平均審稿速度為 偏慢,4-8周 ，影響因子指數(shù)2.1。

該雜志創(chuàng)刊至今，在工程技術(shù)-儀器儀表領(lǐng)域，影響力非凡，對(duì)來稿文章質(zhì)量要求很高，稿件投稿過審難度很大，刊登文章的學(xué)術(shù)水平和編輯質(zhì)量在同類雜志中均名列前茅。如果你想在該雜志上發(fā)表論文，你可以向編輯部提交文章，但文章必須具有重要意義并代表該領(lǐng)域?qū)I(yè)的發(fā)展。我們歡迎廣大同領(lǐng)域的研究者提交投稿。

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